測(cè)試信號(hào)電流低且可選擇：1μA~10mA

測(cè)量范圍寬：10μΩ~100kΩ

分辨率：10μΩ

接觸檢查功能

1kHz交流測(cè)量

測(cè)量速度高：34ms

內(nèi)設(shè)比較器

自動(dòng)測(cè)量方式

HP 4338B毫歐表

HP 4338B毫歐表是一臺(tái)精密、可靠、高速的測(cè)量?jī)x器，用于低阻測(cè)量。
精密低阻測(cè)量
在低電流電路中，機(jī)電元件的接觸故障是元件可靠性中的主要問(wèn)題。HP 4338B提供可選擇的低交流測(cè)試信號(hào)(1μA~10mA)。用戶目前可在低電流的條件下來(lái)表征機(jī)電元件的低阻特性。10μΩ的高分辨率可用來(lái)確定繼電器、開(kāi)關(guān)、接頭、印制電路板圖形和電纜在接觸電阻測(cè)試中的微小差別。1kHz測(cè)試信號(hào)消除了由熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引入的潛在誤差。1kHz的交流測(cè)試信號(hào)是檢查電池內(nèi)阻的更好方法，因?yàn)樗苊饬酥绷髂芰康南摹?
高速測(cè)量
高速(34ms)內(nèi)設(shè)比較器和HP-IB/處理器接口有可能用自動(dòng)處理器和外部計(jì)算機(jī)構(gòu)成一個(gè)測(cè)量系統(tǒng)，使生產(chǎn)測(cè)試時(shí)間縮短到較低限度。
自動(dòng)測(cè)量方式
在進(jìn)行大量連續(xù)的測(cè)試、而測(cè)試信號(hào)電平又不是很主要的因素時(shí)，自動(dòng)測(cè)量功能會(huì)使儀器選擇合適的測(cè)試信號(hào)并設(shè)定測(cè)量范圍。

技術(shù)指標(biāo)

(**的技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)參閱技術(shù)資料)

測(cè)量功能

測(cè)量參數(shù)：R(交流電阻)，X(電抗)，L(電感)，|Z|(阻抗)，θ(相位[°])

組合參數(shù)：R，R-X，R-L，｜Z｜-θ(只適用于串聯(lián)模式)

數(shù)學(xué)功能：偏差和相對(duì)偏差(以百分比表示)

顯示數(shù)字：3.4或5位(可選擇)

測(cè)試信號(hào)特性

測(cè)試頻率：1kHz

頻率精度：±0.1%

測(cè)試信號(hào)電平：1μA，10μA，100μA，1mA，10mArms

電平精度：±(10%＋0.2μA)

樣品兩端的*大電壓：在任何情況下*大為20mV峰值

測(cè)量范圍

參數(shù)　　　測(cè)量范圍

R　　　　 10μΩ~100kΩ

X,|Z|　　 10μΩ~100kΩ (典型值)

L　　　　 10nH~10H(典型值)

θ　　　　 -180°~＋180°(典型值)

測(cè)量精度：R的基本精度為±0.4%

測(cè)量時(shí)間：從觸發(fā)命令到處理器界面端口上的結(jié)束測(cè)量(EOM)信號(hào)輸出的時(shí)間間隔

模式　　時(shí)間(典型值)

短　　　34ms

中等　　70ms

長(zhǎng)　　　900ms

修正功能

短路誤差為0：消除由測(cè)試夾具中雜散寄生阻抗引的測(cè)量誤差

比較功能

對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)設(shè)立高/符合/低界限

接觸檢查功能

可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障

其它功能

疊加直流：在測(cè)量端可能給出±42Vdc(*大值)

存儲(chǔ)/調(diào)用：可以由內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器對(duì)10種儀器設(shè)置進(jìn)行存儲(chǔ)/調(diào) 用

連續(xù)存儲(chǔ)功能：若儀器被切斷或發(fā)生電源故障，儀器設(shè)置將自動(dòng)被存 儲(chǔ)起來(lái)(在23±5℃時(shí)≤72小時(shí))

HP-IB接口：所有控制設(shè)置、被測(cè)值和比較器信息

處理器接口：所有輸出信號(hào)為負(fù)邏輯，光隔離開(kāi)路集電極

輸出信號(hào)包括：高/符合/低、變址，測(cè)量結(jié)束和告警。輸入信號(hào)是健鎖定和外觸發(fā)

一般指標(biāo)

電源要求：198~264V，47~66Hz,45VAmax

工作溫度：0°~45℃

尺寸：320mm(寬)×100mm(高)×300mm(長(zhǎng))

重量：4.5kg