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- 頻譜分析儀(信號(hào)分析儀)
- 信號(hào)源／信號(hào)發(fā)生器
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- 網(wǎng)絡(luò)分析儀
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- 直流電源
- 函數(shù)/任意波形發(fā)生器
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- 示波器校準(zhǔn)器
- 萬(wàn)用表校準(zhǔn)儀
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- EMI 接收機(jī)
- 雷擊浪涌發(fā)生器
- 靜電放電模擬試驗(yàn)器
- 半導(dǎo)體測(cè)試儀
- 天饋線／駐波比測(cè)試儀
- 雷擊浪涌耦合/去耦
- 直流電子負(fù)載
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- 脈沖群發(fā)生器/模擬試驗(yàn)器
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HIOKI日置RM3544微電阻計(jì)RM3545
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日置RM3544/RM3544-01 微電阻計(jì) 微電阻測(cè)試儀
支持高精度·多通道(4端子20ch)
基本精度0.006%，Z小分辨率0.01μΩ，Z大測(cè)量電流1A
微電阻計(jì)的使用方法：接觸電阻的測(cè)量（低電流電阻測(cè)量）
4端子測(cè)量電阻率
微電阻計(jì)的使用方法：對(duì)熱電動(dòng)勢(shì)的影響進(jìn)行補(bǔ)償
可測(cè)范圍0.00μΩ(測(cè)試電流1A)~1200MΩ
使用多路轉(zhuǎn)接器單元Z3003(選件)可進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量(4端子20ch)和可綜合判斷的多路轉(zhuǎn)接器功能(**RM3545-02)
開路端口電壓20mV以下的低功率電阻測(cè)量
高速支持自動(dòng)化判別，從測(cè)量開始到判斷輸出Z快2.2ms
連接器的接觸電阻和用于小信號(hào)的繼電器的接點(diǎn)電阻的低電阻測(cè)量方法分別按照J(rèn)IS標(biāo)準(zhǔn)和IEC標(biāo)準(zhǔn)來(lái)制定?？梢允褂秒娮栌?jì)RM3545進(jìn)行對(duì)應(yīng)的低電流電阻測(cè)量（干電路測(cè)試）。為了不破壞接觸部分的氧化物層，可以在開路端子電壓20mV以下、測(cè)試電流1mA以下進(jìn)行0.1μΩ～1kΩ的測(cè)量，適用于接觸電阻檢查。
使用RM3545，可使用損耗較小的4端子方法來(lái)測(cè)量電阻率。
低阻測(cè)量中由于不同金屬的連接部分所產(chǎn)生的電壓（熱電動(dòng)勢(shì)）不同，有時(shí)會(huì)導(dǎo)致測(cè)量值不穩(wěn)定。電阻計(jì)RM3545具備對(duì)熱電動(dòng)勢(shì)的影響進(jìn)行補(bǔ)償?shù)摹捌秒妷盒Ｕ∣VC）功能”。適用于對(duì)如匯流排焊接部分這類低電阻進(jìn)行測(cè)量。
