安捷倫/惠普HP8753D網(wǎng)絡(luò)分析儀租售回收

產(chǎn)品型號： HP8753D

產(chǎn)品指標(biāo)： 頻率范圍30kHz~3GHz
頻率范圍30kHz~3GHz
集成化S參數(shù)測試裝置
集成化1Hz分辨率合成信號源
可選用時(shí)域測量和掃描諧波測量
達(dá)110dB的動(dòng)態(tài)范圍
可測量群延遲和與線性相位的偏離
對內(nèi)置磁盤驅(qū)動(dòng)器的存儲(chǔ)/調(diào)用
提高內(nèi)置精度

HP 8753D射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀
HP 8753D 射頻網(wǎng)絡(luò)分析儀以低廉的價(jià)格為實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)測試提供了優(yōu)越的RF網(wǎng)絡(luò) 測量設(shè)備。它具有集成化的S參數(shù)測試裝置，延長了校準(zhǔn)間隔期、提高了可靠性并 改善了抗靜電放電能力。HP 8753D以比以往其它型號的測試設(shè)備更低的價(jià)格為分 析30kHz~6GHz的有源或無源網(wǎng)絡(luò)、器件與元件特性提供了完整的解決途徑。
網(wǎng)絡(luò)分析儀有2個(gè)獨(dú)立的顯示通道，供同時(shí)顯示反射和傳輸、幅度和相位或供時(shí)域 和掃頻測量。便于使用的預(yù)編程按鍵使你能迅速訪問各個(gè)測量功能，你可以在高 分辨率彩色顯示器上以重疊或分離屏面的形式觀察測量結(jié)果。
通用性和性能
集成化的合成信號源提供達(dá)10mW的輸出功率(選件011為100mW)、1Hz頻率分辨率和 線性、對數(shù)、列表和連續(xù)波掃描類型。三個(gè)調(diào)諧接收機(jī)允許在6GHz上(利用選件 006頻率擴(kuò)展)，在105dB的寬動(dòng)態(tài)范圍或在3GHz上在100dB的寬動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)(標(biāo)準(zhǔn)情 況)進(jìn)行獨(dú)立功率測量或同時(shí)進(jìn)行的比值測量。集成化測試裝置允許在不使用倍頻 器的情況下，對工作到6GHz的器件進(jìn)行傳輸和反射特性測量。 為了在非同軸系統(tǒng) 中進(jìn)行方便而精Q的測量，特增加了TRL*/LRM*1校準(zhǔn)。高穩(wěn)定度的頻率基準(zhǔn)(選 件1D5)提高了對高Q器件，如表面波(SAW)諧振腔或介質(zhì)諧振濾波器的頻率測量精度 。
提高效率
測試時(shí)序功能允許一次來迅速、反復(fù)執(zhí)行復(fù)雜的任務(wù)。在時(shí)序工作方式下，只需 從面板測量一次，分析儀便能儲(chǔ)存鍵入，以致無需額外編程，還可以利用測試時(shí) 序經(jīng)并行端口對外部裝置進(jìn)行控制。另一些提高效率的措施包括支持LIF和DOS格 式的內(nèi)置磁盤驅(qū)動(dòng)器、更快的CPU時(shí)鐘速率、512kB非易失存儲(chǔ)器、串行和并行接 口，DIN鍵盤接口以及對打印輸出和文件提供時(shí)間記錄的實(shí)時(shí)時(shí)鐘。還包括極限測 試、任意頻率測試和標(biāo)記跟蹤功能。分段校準(zhǔn)和內(nèi)插誤差修正能提高分析儀已校 頻率范圍的某一區(qū)段上的矢量精度。
非線性器件的測試
為了表征非線性器件的特性，選件002增加了諧波測量功能。可以直接或以dBc 顯 示放大器的掃描、二次和三次諧波電平。按動(dòng)一個(gè)按鈕，即可測量達(dá)-40dBc的諧 波。功率計(jì)校準(zhǔn)向?qū)?yōu)良輸入或輸出電平敏感的器件提供穩(wěn)幅的優(yōu)良功率。 HP8753D自動(dòng)對HP436A、437B或438A功率計(jì)進(jìn)行控制，使在測試系統(tǒng)中任何處的功 率都調(diào)到具有功率計(jì)的精度。分析儀還完成混頻器統(tǒng)調(diào)和變頻損耗測量。還能進(jìn) 行固定IF和掃描IF測量。
時(shí)域分析
利用選件010，能觀察在時(shí)域中的響應(yīng)。該分析儀對頻域數(shù)據(jù)的快速傅氏逆變換 (FFT)進(jìn)行計(jì)算，以顯示反射系數(shù)或傳輸系數(shù)隨時(shí)間變化的關(guān)系。兩種時(shí)域分析方 式能觀察器件的階躍響應(yīng)或沖擊響應(yīng)或除去一些不希望的響應(yīng)，如利用選通來除 去接頭失配。 1 TRL*和LRM*是直通-反射-傳輸線和傳輸線-反射-匹配校準(zhǔn)技術(shù)的 三取樣器執(zhí)行方式。
技術(shù)指標(biāo)摘要
測試裝置
集成化S參數(shù)測試裝置以50Ω(標(biāo)準(zhǔn))或75Ω(選件075)提供完滿的正向和反向測量 。外部測試裝置由選件011提供。 測試端口輸出。

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