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產(chǎn)品詳情
簡單介紹:
安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度非???。
詳情介紹:
現(xiàn)貨銷售美國惠普HP 4285A 4286A 4287A高阻測試儀
長期 銷售 租賃 回收 維修二手進口儀器,專業(yè)一站式服務(wù)。
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本公司長期回收/出售福祿克紅外熱像儀:FLUKETi100、FLUKETi105、FLUKETi125、FLUKETiS10、FLUKETiS20、FLUKETiS40、FLUKETiS45、FLUKETiS50、FLUKETiS60、FLUKETiS65、FLUKETi200、FLUKETi300、FLUKETi400、FLUKETi27、FLUKETi29、FLUKETi32、FLUKETi25、FLUKETi110、FLUKETiX520、FLUKETiX560、FLUKETiX640、FLUKETiX1000、FLUKETi55、福祿克熱像儀。
現(xiàn)貨銷售美國惠普HP 4285A 4286A 4287A高阻測試儀
4287A主要技術(shù)指標,參數(shù),說明:
1MHz~3GHz,以10kHz分檔
阻抗測量范圍寬,從200mΩ到3kΩ
在低試信號電平上具有優(yōu)良的測量重復(fù)性
基本精度為1%
高速測量:10ms
安捷倫 4287A射頻LCR測試儀在1 MHz~3 GHz頻率范圍可以提供**、可靠和快速測量,以改進生產(chǎn)線上對電子元件進行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測量技術(shù)不同,采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進行**測量。
生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠
安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度非???。此外,在小測試電流(100mA)處優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率,因為所需的取平均過程非常短。
系統(tǒng)組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近,而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產(chǎn)監(jiān)控。此外,若干APC-7,SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用,從而無需制作專用夾具。
1MHz~3GHz,以10kHz分檔
阻抗測量范圍寬,從200mΩ到3kΩ
在低試信號電平上具有優(yōu)良的測量重復(fù)性
基本精度為1%
高速測量:10ms
安捷倫 4287A射頻LCR測試儀在1 MHz~3 GHz頻率范圍可以提供**、可靠和快速測量,以改進生產(chǎn)線上對電子元件進行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測量技術(shù)不同,采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進行**測量。
生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠
安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度非???。此外,在小測試電流(100mA)處優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率,因為所需的取平均過程非常短。
系統(tǒng)組建簡單
測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近,而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
便于使用
8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進行生產(chǎn)監(jiān)控。此外,若干APC-7,SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用,從而無需制作專用夾具。