產(chǎn)品介紹

日本NoiseKen半導體器件靜電放電模擬試驗器ESS-6008規(guī)格：

特征:

考查實際上給電子設備安裝半導體元件時，半導體元件所受到的抗靜電破壞能力的靜電試驗器。
半導體元件因受靜電可能發(fā)生內(nèi)部配線，絕緣膜的熔斷，破壞等而導致產(chǎn)品特性裂化，誤動作的現(xiàn)象。
對于此靜電破壞試驗，只需利用1 臺弊司小型ESS-600X 更換探頭就可簡單實行人體帶電型，機器帶電型的試驗。還有，可用選件中的精密型支架可對超細密間- - 距元件做半自動的試驗。
適合用于進行LED,LCD, 光元件等電子部品的靜電破壞耐性試驗。
精密型支架

• 可做*高輸出電壓±8KV 試驗（ESS-6008）
• 可做出留有余量的試驗
• 可對各種間距的受測元件進行靜電施加試驗
• 可搭配精密測臺，以半自動（Y 軸）的腳位移動而正確的對待
• 測物施加靜電
• 可做*低試驗電壓±10V 的試驗（ESS-6002）
• 對于低電壓驅動元件的評價可從10V 開始以1V 的步長予施加

 
項目                        功能/性能
ESS-6002                 ESS-6008
輸出電壓                 10～2000V±10％（ESS-6002） 1V步進    100～8000V±10％（ESS-6008） 10V步進
輸出極性                 正或負
重復周期                 0.3～99s±10％到10s為止0.1s步進 10s以后1s步進
放電次數(shù)                 1～99次/連續(xù)
Automatic output      Available

voltage ramping    
尺寸                      （W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分）
尺寸                        約6kg

實物圖

東莞市科之信電子科技有限公司

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