- 鎖相放大器
- 毫微表/微歐表
- 皮安計(jì)/靜電計(jì)/高阻表
- 其他
- 高阻測(cè)試儀
- 皮套
- 微波分析儀
- 頻譜分析儀(信號(hào)分析儀)
- 信號(hào)源/信號(hào)發(fā)生器
- 數(shù)字示波器
- 網(wǎng)絡(luò)分析儀
- 網(wǎng)絡(luò)/頻譜/阻抗分析儀
- 示波器
- 阻抗分析儀
- 數(shù)字萬(wàn)用表
- 信號(hào)發(fā)生器
- 多功能校準(zhǔn)儀
- 耐壓測(cè)試儀
- 藍(lán)牙、WiFi、GPS測(cè)試儀
- 電源測(cè)量單元
- 交流電源
- 脈沖函數(shù)任意噪聲發(fā)生器
- 脈沖碼型發(fā)生器
- 靜電信號(hào)發(fā)生器
- 測(cè)試接收機(jī)
- 電視信號(hào)發(fā)生器
- 電能質(zhì)量分析儀
- 波形發(fā)生器合成模塊
- 可編程交流電源
- 電子負(fù)載
- 直流電源
- 函數(shù)/任意波形發(fā)生器
- 耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
- 電池測(cè)試儀
- 光示波器
- LCR電橋
- 示波器校準(zhǔn)器
- 萬(wàn)用表校準(zhǔn)儀
- 無(wú)線綜合測(cè)試儀
- EMI 接收機(jī)
- 雷擊浪涌發(fā)生器
- 靜電放電模擬試驗(yàn)器
- 半導(dǎo)體測(cè)試儀
- 天饋線/駐波比測(cè)試儀
- 雷擊浪涌耦合/去耦
- 直流電子負(fù)載
- 光功率計(jì)
- 音頻分析儀
- 手持式矢量網(wǎng)絡(luò)綜合分析儀
- 放大器
- 脈沖群發(fā)生器/模擬試驗(yàn)器
- 探頭
- 程控電源
- 電流探頭
- 晶體管測(cè)試儀
- 數(shù)字源表
- 靜電放電發(fā)生器
- 視頻分析儀
- 安規(guī)綜合測(cè)試儀
- 波形發(fā)生器
- 夾具/治具
- 動(dòng)態(tài)分析儀
- 頻率計(jì)
- 無(wú)線網(wǎng)絡(luò)測(cè)試儀
- 校準(zhǔn)儀
- 光源模塊
- 毫歐表|高阻計(jì)|高阻測(cè)試儀
- 示波器探頭
- 函數(shù)信號(hào)發(fā)生器
- 功率計(jì)/功率分析儀
- 無(wú)線網(wǎng)絡(luò)多路測(cè)試儀
- 混合信號(hào)示波器
- 納伏表/微歐表
- 手持頻譜分析儀
- 光波長(zhǎng)計(jì)
- 接收機(jī)
- 色度計(jì)/亮度計(jì)/色彩分析儀
- 銣鐘/頻率標(biāo)準(zhǔn)
- 信號(hào)源分析儀
- 皮安表
- 熱成像儀
- 噪聲源/噪聲分析儀
- 功率傳感器
- 光頻譜分析儀
- 電源
- 信號(hào)圖形產(chǎn)生器
- 測(cè)試儀
- 校準(zhǔn)件
- GPIB卡/線
- 基站測(cè)試儀
- 數(shù)據(jù)采集儀/采集卡
- 電阻計(jì)
- 可視紅外測(cè)溫儀
- 其他儀器儀表
- 無(wú)線連接測(cè)試儀
- 脈沖信號(hào)發(fā)生器
- 直流電源分析儀
- 光功率探頭
- 高電阻靜電計(jì)
- 波形分析儀
- 電時(shí)鐘恢復(fù)
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回收銷售Tektronix/泰克 TEK370A TEK371A晶體管測(cè)試儀
銷售、租賃、維修、回收各類進(jìn)口儀器,歡迎來(lái)電,上門看貨??!并提供學(xué)校,災(zāi)區(qū)優(yōu)惠價(jià)格。
TEK370A特性
1nA的測(cè)量分辨率
上限到2mV的測(cè)量分辨率(370A)
波形對(duì)比
包絡(luò)顯示
波形平均
點(diǎn)光標(biāo)(370A)
Kelvin傳感測(cè)量
全程控
MS-DOS兼容的軟盤,方便設(shè)置參孝存儲(chǔ)和調(diào)用
主要參數(shù):
半導(dǎo)體器件高精度測(cè)量
上限達(dá)2000V或電流到10A的源(370A)
上限到220W(370A)
應(yīng)用
過(guò)程監(jiān)視及質(zhì)量控制
數(shù)據(jù)報(bào)告的生成
元件配對(duì)
失效分析
工程測(cè)試
交互式程控
手動(dòng)或自動(dòng)進(jìn)行半導(dǎo)體高分辨率DC參數(shù)測(cè)量
來(lái)料檢查
生產(chǎn)測(cè)試
tektronix泰克370A / TEK370A是一款高分辨率特性曲線圖示儀,可應(yīng)用到許多場(chǎng)合。370A能完成晶體管、閘流管、二極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管、光電元件、太陽(yáng)能電池、固態(tài)顯示和其它半導(dǎo)體器件的直流參數(shù)特性的測(cè)試。