回收銷售穩(wěn)科 WK6540B WK6530B阻抗分析儀

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測(cè)試參數(shù):
電容(C), 電感(L), 電阻(R), 電導(dǎo)(G), 電納(B), 電抗(X), 消耗因素(D), 品質(zhì)因素(Q), 阻抗(Z), Y參數(shù)(Y), 相位角(θ)
高精度量測(cè)：
電容C,電感L及阻抗Z基本**度為±0.05%。損耗因數(shù)D**度為±0.0005及品質(zhì)因數(shù)Q**度為±0.05%。
元件圖形掃描
WK6500B系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率，高精度的量測(cè)。該設(shè)備還是一個(gè)包含豐富特性的元件分析儀。
曲線掃描可依據(jù)頻率、驅(qū)動(dòng)值和直流偏壓源同時(shí)在高清晰,大型彩色顯示幕上顯示任意兩種參數(shù)的曲線。顯示格式包括 串聯(lián) 或并聯(lián)等同電路和兩極形式。
單測(cè)某一頻率時(shí)可以從曲線掃描轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)LCR表讀值模式。
可變的輸出和偏壓源
交流輸出可選高達(dá)1V或20mA，實(shí)現(xiàn)在真實(shí)操作環(huán)境中來評(píng)估元件。可變偏壓直流源可提供達(dá)100mA的電流.
WK6500B阻抗分析儀是英國(guó)Wayne Kerr研發(fā)生產(chǎn)的一款阻抗分析儀，具有高頻阻抗量測(cè)功能頻率范圍20Hz---120MHz，高速測(cè)量速度
大型TET屏幕，具有觸屏功能。
基本度為0.05%
電平：10mV~1V;200uA~20mA