- 鎖相放大器
- 毫微表/微歐表
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- 其他
- 高阻測(cè)試儀
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- 微波分析儀
- 頻譜分析儀(信號(hào)分析儀)
- 信號(hào)源/信號(hào)發(fā)生器
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- 函數(shù)/任意波形發(fā)生器
- 耐壓絕緣電阻測(cè)試儀
- 電池測(cè)試儀
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- 示波器校準(zhǔn)器
- 萬(wàn)用表校準(zhǔn)儀
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- 雷擊浪涌發(fā)生器
- 靜電放電模擬試驗(yàn)器
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Tektronix DSA8200 采樣示波器
型 號(hào):DSA8200
名 稱:采樣示波器
品 牌:泰克(Tektronix)
分 類:通用電子測(cè)試 > 示波器 > 數(shù)字示波器
產(chǎn)品屬性:主機(jī)
簡(jiǎn) 述:
為較具挑戰(zhàn)的系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供信號(hào)高保真度。當(dāng)前高速電路使得信號(hào)路徑檢定和BER分析的挑戰(zhàn)性進(jìn)一步提高。由于較高的TDR帶寬、較快速的S參數(shù)測(cè)量功能及**支持光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試,DSA8200數(shù)字串行分析儀提供了完整的高速物理層測(cè)試平臺(tái)。
商品介紹
為較具挑戰(zhàn)的系統(tǒng)設(shè)計(jì)提供信號(hào)高保真度
當(dāng)前高速電路使得信號(hào)路徑檢定和BER分析的挑戰(zhàn)性進(jìn)一步提高。由于較高的TDR帶寬、較快速的S參數(shù)測(cè)量功能及**支持光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試,DSA8200數(shù)字串行分析儀提供了完整的高速物理層測(cè)試平臺(tái)。
DSA8200采樣示波器概述
功能 |
優(yōu)點(diǎn) |
*多4個(gè)真實(shí)差分通道 | 利用真實(shí)的差分TDR激勵(lì)信號(hào)準(zhǔn)確地檢測(cè)非線性設(shè)備,如放大器。 |
高帶寬(50 GHz)時(shí)域反射儀 | 以12 ps 的入射級(jí)將阻抗不連續(xù)性分解至 1mm。 |
光學(xué)模塊噪聲低,光學(xué)靈敏度高,擁有消光比校準(zhǔn)功能及寬波長(zhǎng)。 | 通過一個(gè)光學(xué)測(cè)試解決方案,滿足8.5Gb/s - 40Gb/s所有主要標(biāo)準(zhǔn)。 |
IConnect® 信號(hào)完整性 | 利用集成的TDR和S參數(shù)測(cè)量減少由測(cè)試治具信號(hào)降級(jí)引起的測(cè)量錯(cuò)誤。 |
串行數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)分析 (SDNA) | 通過一個(gè)儀器進(jìn)行時(shí)域和頻域分析來降低測(cè)試成本。準(zhǔn)確地分析信號(hào)通路以預(yù)測(cè)信號(hào)串?dāng)_和抖動(dòng),確保可靠的系統(tǒng)運(yùn)行。 |
串行數(shù)據(jù)鏈路分析 (SDLA) | 通過抖動(dòng)、噪聲和BER分析確定眼閉的準(zhǔn)確原因。通過快速評(píng)估各種FE/DFE均衡設(shè)置*大化接收器的眼睜時(shí)間。 |
遠(yuǎn)程采樣頭 | 通過將TDR頭接近被測(cè)試設(shè)備來優(yōu)化信號(hào)保真度和*小化探頭、電纜及測(cè)試治具的影響。 |
DSA8200采