美國(guó)HP惠普4278A 電容測(cè)試儀 數(shù)字電橋 1MHz 電容測(cè)量?jī)x

Agilent 4278A詳細(xì)資料：

測(cè)量速度:6.5ms/10ms/21ms

測(cè)量參數(shù):C-D,Q,ESR,G

專注銷售/收購(gòu)/維修、租賃二手進(jìn)口儀器設(shè)備

C-D測(cè)量精度:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)

0.05%,0.0002(1MHz,21ms)

Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測(cè)試儀是一臺(tái)高速高可靠的精密測(cè)試儀器，用于生產(chǎn)線和質(zhì)量控制中作電容器的進(jìn)出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電容器的測(cè)試效率（可測(cè)量以200μF，這個(gè)電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)

據(jù)值）。

4278A技術(shù)指標(biāo)：

4278A測(cè)量參數(shù) C-D，Q，ESR，G

4278A測(cè)試信號(hào)

4278A頻率： 1kHz和1MHz±0.02%

信號(hào)電平： 0.1~1Vrms,±10%(C≤20μf),以0.1Vrms步進(jìn)

測(cè)量時(shí)間： 6.5ms/10ms/21ms(典型值）

測(cè)量范圍 測(cè)量參數(shù) 1kHz 1MHz正常模式

1MHz高精度

4278A電纜長(zhǎng)度補(bǔ)償 0,1或2m

Agilent 4278A比較器：對(duì)電容的10倉(cāng)室分類，對(duì)D、Q、ESR和G的合格/不合格測(cè)試

存儲(chǔ)卡插槽 外部存儲(chǔ)器的存儲(chǔ)卡插槽用于對(duì)控制設(shè)置和比較極限進(jìn)行分類和調(diào)用

（存儲(chǔ)卡可任選，參見下面的選件004）。