成色新Agilent 4263B HP4263B電橋

• HP4263B|惠普4263B|Agilent4263B|安捷倫4263B|Keysight4263B|是德科技4263B|LCR測(cè)試儀|數(shù)字電橋
  基本精度為0.1%
  測(cè)試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
  量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
  具有測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能
  高速測(cè)量:25ms
  高速接觸檢查
  大的電容測(cè)試量程
  變壓器參數(shù)測(cè)量(供選用)
  Alilent 4263B LCR測(cè)試儀是Agilent公司生產(chǎn)的*價(jià)廉物美的低檔LCR測(cè)試儀，供生產(chǎn)線上的元件評(píng)估和實(shí)驗(yàn)室中的基本阻抗測(cè)試使用。4263B具有能在正確狀態(tài)下對(duì)測(cè)試進(jìn)行模擬的5個(gè)測(cè)試頻率，即100Hz，120Hz，1kHz和100kHz。在這5個(gè)頻率之外還可增添供選用的20kHz測(cè)試頻率（選件002）。
  高速測(cè)量
  Agilent 4263B依靠在任何測(cè)試頻率上都有25ms的測(cè)量速度來(lái)提高一產(chǎn)率，這種能力提高了電解電容順和變壓器測(cè)試的效率，4263B能檢查測(cè)試端子與被測(cè)件（DUT）之間的接觸狀況，這種功能保證在生產(chǎn)中用自動(dòng)處理器進(jìn)行合格。不合格的測(cè)試的可靠性，有故障的被測(cè)件一旦從處理器中取去該儀器便能立即恢復(fù)正常工作，因此處理器始終能以*高速度工作。
  電解電容器測(cè)量
  Ailent 4263B的精度和寬的測(cè)量范圍是對(duì)電解電容器進(jìn)行精密測(cè)量的很好保證。充電后的電容器可能經(jīng)常端放電，從而使儀器損壞。4263B的前端設(shè)計(jì)考慮了保護(hù)作用，能保持測(cè)試正常進(jìn)行。
  變壓器參數(shù)測(cè)量
  由于Ailent 4263B能進(jìn)行匝數(shù)比（N），互感（M）和直流電阻（DCR）測(cè)量，故數(shù)據(jù)計(jì)算和改變測(cè)試裝置不再是費(fèi)時(shí)的工作（選件001）靈活的信號(hào)電平高速和電壓、電流監(jiān)視功能使4263B特別適用于測(cè)量與電平有關(guān)的被測(cè)件，始磁芯電感器。
  技術(shù)指標(biāo)：
  

  測(cè)量功能
  測(cè)量參數(shù)	|Z|,|Y|,θ,R,X,G,B,L,C,Q,D,ESR
  選件001	增加DCR（直流電阻），N（匝數(shù)比）和M（互感）測(cè)量
  測(cè)量電路形式	串聯(lián)和并聯(lián)
  數(shù)學(xué)功能	偏差和百分偏差
  測(cè)試電纜長(zhǎng)度	0m,1m,2m,4m,(頻率=100/120/1kHz);0m,1m,2m(頻率=10kHz/20kHz);0m,1m(頻率=100kHz)
  測(cè)試信號(hào)數(shù)據(jù)
  測(cè)試頻率	100Hz,120Hz,1kHz,10kHz和100kHz
  選件002	增加20kHz測(cè)試頻率
  頻率精度	±0.01%（頻率=100Hz,1kHz,10kHz,20kHz,100kHz),±(10%+10mV)
  輸出阻抗	100Ω±10%,25Ω±10%(≤1Ω量程）
  交流測(cè)試信號(hào)電平	20mV~1Vrms,以5mVrms分檔
  精度	±（10%+10mV)
  內(nèi)部直流偏置
  電平	1.5和2V；精度：±（5%+2mV)
  外部直流偏置	0~+2.5V
  測(cè)量范圍	參數(shù)	測(cè)量范圍
  	|Z|,R,X	1mΩ-100MΩ
  	|Y|,G,B	10nS-1000S
  	C	1pF-1F
  	L	10nH-100kH
  	D	0.0001-9.9999
  	Q	0.1-9999.9
  	θ	-180°~+180°
  	DCR	1mΩ-100MΩ
  	N	0.9-200（待定）
  	L,M	1μH-100H（待定）
  	Δ%	-999.99%-+999.99%
  	測(cè)量精度：	±0.1%(基本精度）（適用于|Z|,R,X,|Y|,G,B,CL)
  	測(cè)量時(shí)間
  	模式	時(shí)間（典型值）
  	短	25ms
  	中等	65ms
  	長(zhǎng)	500ms
  測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視器：	電壓和電流
  前端保護(hù)：	當(dāng)充電電容器連接到輸入端時(shí)內(nèi)部電路便函起保護(hù)作用。*大電容器電壓為；在  Vmax≤250V時(shí)，Vmax=√(8/C)(典型值）；在Vmax≤1000V時(shí)，Vmax=√(2/C)(典型值），C單位為F。
  顯示數(shù)字：	3，4或5位（可選擇）
  修正功能：
  開(kāi)路/短路誤差為0：	消除由測(cè)量夾具中雜散寄生阻抗引起的測(cè)量誤差
  負(fù)載：	利用一個(gè)已校器件作為參考來(lái)改善測(cè)量的精度
  比較功能：	對(duì)每個(gè)一次測(cè)量參數(shù)和二次測(cè)量參數(shù)給出高/符合/低（HEGH/IN/LOW）比較結(jié)果
  接觸檢查功能：	可以檢測(cè)測(cè)試夾具與器件之間的接觸故障。接觸檢查的附加時(shí)間為5ms
  其它功能
  存儲(chǔ)/調(diào)用：	可以存儲(chǔ)和從內(nèi)部非易失存儲(chǔ)器調(diào)用10個(gè)儀器設(shè)置
  連續(xù)存儲(chǔ)功能：	若儀器補(bǔ)關(guān)斷或出現(xiàn)電源故障。儀器設(shè)置（直流偏置接通/切斷除外）將自動(dòng)被存儲(chǔ)起來(lái)（在23°±5℃下≦72小時(shí)）
  GPIB接口	所有控制設(shè)置，被測(cè)值和比較器信息
  處理器接口	所有輸出信號(hào)均為負(fù)邏輯，光隔離的開(kāi)路集電極。輸出信號(hào)包括HIGH/IN/LOW，不接觸，序號(hào)，測(cè)量結(jié)束和報(bào)警。輸入信號(hào)包括鍵鎖定和外觸發(fā)

  一般技術(shù)指標(biāo)：
  

  電源要求	90-132V或198-264V，47-66Hz，45VAmax
  工作溫度	0-45℃
  尺寸	320mm(寬）*100mm(高）*300mm(長(zhǎng)）（12.6英寸*3.94英寸*11.81英寸）
  重量：	4.5kg(9.9磅）

  
  

備注：
 
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