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愛德萬R3767CG系列網(wǎng)絡(luò)分析儀詳細(xì)介紹:
    R3767CG系列8GHz網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠快速和**地測量幅度、相位、群延遲和阻抗。測量的頻率范圍為40MHz（300K）~8GHz。由于它具有*新高速信號處理結(jié)構(gòu)，R3767系列網(wǎng)絡(luò)分析儀可以進(jìn)行10kHz RBW（IF帶寬）的0.25ms/點(diǎn)的快速測量。R3765系列可應(yīng)用于生產(chǎn)線或工程中。系列包括三種型號：A型（基本型），B型（內(nèi)置電橋）和C型（內(nèi)置S參數(shù)測試裝置）。
    R3767系列采用獨(dú)立的分析儀功能和容易讀數(shù)的7.8英寸大TFT彩色LCD顯示，所以很容易進(jìn)行數(shù)據(jù)比較和模式分析。內(nèi)置的BASIC控制器功能、并行I/O功能和條碼輸入功能，使它很容易完成測量、分析和評估以及建立一個高速ATE（自動測試裝置）系統(tǒng)。因此，R3767系列在使用標(biāo)準(zhǔn)FDD格式（720K，1.2M和1.44M字節(jié)）和內(nèi)部標(biāo)準(zhǔn)SCPI指令的情況下，非常適合作為系統(tǒng)組成部分。
★用于特定場合的三種類型：
....A型：基本型
....B型：內(nèi)置電橋型
....C型：內(nèi)置S參數(shù)測試裝置
★高速掃描
....0.15毫秒/點(diǎn)（帶有標(biāo)稱校準(zhǔn)）
★高速測量：0.15毫秒/點(diǎn)
★具有4通道和8跡線的多功能顯示
★100dB寬動態(tài)范圍
★對于掃描中不同RBW和輸出電平的標(biāo)準(zhǔn)程序掃描功能
針對不同應(yīng)用的可選擇*佳系統(tǒng)
    根據(jù)你應(yīng)用需要可以從R3767系列中選擇出*佳型號。
    A型提供了內(nèi)置信號隔離器和兩個輸入終端，可同時進(jìn)行兩個器件的測量。將A型連接到選件雙工器測試裝置上，它可以用在手提電話前部，用三個端口（AND、RX和TX端口）進(jìn)行雙工器測量。當(dāng)作為選件功放測試裝置的組成部分時，主機(jī)可以修正并可同選件VIGs連用，這樣手提電話的功放就可以測量了。在這種情況下，A型可以滿足多種應(yīng)用場合。
    B型裝有功分器和SWR電橋，能夠同時測量傳輸和反射。當(dāng)使用B型時，通過校準(zhǔn)1口就可實現(xiàn)高精度測量。
    C型裝有S參數(shù)測試裝置，這種裝置提供了功分器和兩個SWR電橋以及一個用于正向/反向轉(zhuǎn)換的半導(dǎo)體轉(zhuǎn)換開關(guān)。在自動反向模式中，C型可以高精度測量正向特性（S11和S21）和反向特性（S22和S12）。
作為系統(tǒng)的組成成分
    32字×8行的熒光屏顯示
獨(dú)立應(yīng)用
7.8英寸TFT彩色LCD 
0.15ms/點(diǎn)的高速掃描
   在電介質(zhì)濾波器、SAW濾波器、隔離器、環(huán)行器、功率放大器、天線和其它電子元件的生產(chǎn)線的測量系統(tǒng)中，總產(chǎn)量是一個至關(guān)重要的參數(shù)。R3767系列能夠?qū)崿F(xiàn)0.15ms/點(diǎn)（10kHz RBW和歸一化校準(zhǔn)）或0.25ms/點(diǎn)    （10kHz RBW和2端口校準(zhǔn)）的掃描速度。

具有4通道和8跡線的多功能顯示
   由于具有4通道和8跡線顯示功能，R3767C系列能夠在直角坐標(biāo)和極性坐標(biāo)中用Smith圓圖對2端口器件的四個S參數(shù)（S11，S21，S22和S12）同時進(jìn)行顯示，這樣就便于對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行快速分析。而且，具有TFT彩色LCD的R3767系列網(wǎng)絡(luò)分析儀通過使用重疊數(shù)據(jù)顯示和限制線功能可以對數(shù)據(jù)進(jìn)行識別。

100dB寬動態(tài)范圍
    作為信息和通訊設(shè)備用于窄帶和高頻測量時，它內(nèi)部裝有用于測量電介質(zhì)和SAW濾波器的更高、更真實性能指標(biāo)的指令。R3767系列的100dB寬動態(tài)范圍（10Hz RBW）非常適合于測試這類電子元件，例如測量通常的波紋和阻帶的失真信號。

針對不同RBW和輸出電平的標(biāo)準(zhǔn)程序掃描功能
    程控掃描功能可以設(shè)置掃描頻率以及改變分辨率帶寬和輸出電平。在測量濾波器特性時，通過改變分辨率帶寬和輸出電平可以實現(xiàn)通帶和阻帶中的更快速和更**的特性測量。

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